電子顕微鏡・表面分析のためのブロードなアルゴンイオンビームを用いた試料前処理法 Specimen Preparation by using a Broad Argon Ion Beam for Electron Microscopy and Surface Analysis

この論文をさがす

著者

収録刊行物

  • ぶんせき

    ぶんせき (388), 185-189, 2007-04-05

    日本分析化学会

参考文献:  12件中 1-12件 を表示

  • <no title>

    TAKAHASHI H.

    Microchim. Acta 155, 295, 2006

    被引用文献1件

  • <no title>

    HAUFFE W.

    Electron Microscopy, 1992

    被引用文献1件

  • <no title>

    柴田昌照

    日本電子ニュース 39, 28, 2004

    被引用文献1件

  • <no title>

    朝比奈俊輔

    2004日本電子EPMA 表面分析ユーザーズミーティング予稿集, 2004

    被引用文献1件

  • <no title>

    鈴木清一

    顕微鏡 39, 121, 2004

    被引用文献1件

  • <no title>

    内村浩美

    繊維学会誌 54, 360, 1998

    被引用文献1件

  • <no title>

    UCHIMURA H.

    Proceedings of International Printing & Graphic Arts Conference, 1998, 1998

    被引用文献1件

  • <no title>

    内村浩美

    繊維学会誌 57, 94, 2001

    被引用文献1件

  • <no title>

    日本表面科学会編

    表面分析技術選書 ナノテクノロジーのための走査電子顕微鏡, 2004

    被引用文献1件

  • <no title>

    嶋徹男

    '88日本電子EPMA 表面分析ユーザーズミーティング予稿集, 1988

    被引用文献1件

  • <no title>

    鈴木俊明

    日本顕微鏡学会第61回学術講演会 チュートリアルテキスト, 2005, 2005

    被引用文献1件

  • <no title>

    鈴木俊明

    日本金属学会誌 68, 293, 2004

    被引用文献1件

被引用文献:  1件中 1-1件 を表示

各種コード

  • NII論文ID(NAID)
    10018915584
  • NII書誌ID(NCID)
    AN00222622
  • 本文言語コード
    JPN
  • 資料種別
    REV
  • ISSN
    03862178
  • NDL 記事登録ID
    8787049
  • NDL 雑誌分類
    ZP4(科学技術--化学・化学工業--分析化学)
  • NDL 請求記号
    Z17-729
  • データ提供元
    CJP書誌  CJP引用  NDL 
ページトップへ