電子顕微鏡・表面分析のためのブロードなアルゴンイオンビームを用いた試料前処理法 Specimen Preparation by using a Broad Argon Ion Beam for Electron Microscopy and Surface Analysis

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収録刊行物

  • ぶんせき  

    ぶんせき (388), 185-189, 2007-04-05 

    日本分析化学会

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被引用文献:  1件

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各種コード

  • NII論文ID(NAID)
    10018915584
  • NII書誌ID(NCID)
    AN00222622
  • 本文言語コード
    JPN
  • 資料種別
    REV
  • ISSN
    03862178
  • NDL 記事登録ID
    8787049
  • NDL 雑誌分類
    ZP4(科学技術--化学・化学工業--分析化学)
  • NDL 請求記号
    Z17-729
  • データ提供元
    CJP書誌  CJP引用  NDL 
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