FELアブレーションによる表面改質

• 荻野 誠司

  住友電気工業株式会社 電力システム技術研究所

• 粟津 邦男

  自由電子レーザ研究所

Journal

• Molecular electronics and bioelectronics

  Molecular electronics and bioelectronics 9 (2), 51-55, 1998-05-25

Details

• CRID: 1572261550284598016
• NII Article ID: 10018958344
• NII Book ID: AN10464559
• Text Lang: ja
• Data Source:
  • CiNii Articles