高周波キャリア型薄膜磁界センサによるEMC計測 Magnetic Near Field Probe Based on High Frequency Carrier Type Thin-film Magnetic Field Sensor

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収録刊行物

  • 電気学会研究会資料. PHS, フィジカルセンサ研究会  

    電気学会研究会資料. PHS, フィジカルセンサ研究会 2001(1), 77-82, 2001-11-21 

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被引用文献:  1件

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各種コード

  • NII論文ID(NAID)
    10018972040
  • NII書誌ID(NCID)
    AA11486078
  • 本文言語コード
    JPN
  • 資料種別
    ART
  • データ提供元
    CJP書誌  CJP引用 
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