TC(Triple Conduction) 構造による700V横型MOSFETのドレイン耐圧特性の向上

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タイトル別名
  • Development of breakdown voltage for 700V Lateral Power MOSFET with TC(Triple Conduction) structure

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  • CRID
    1572824500252966912
  • NII論文ID
    10018989850
  • NII書誌ID
    AN1044178X
  • 本文言語コード
    ja
  • データソース種別
    • CiNii Articles

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