TC(Triple Conduction) 構造による700V横型MOSFETのドレイン耐圧特性の向上
書誌事項
- タイトル別名
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- Development of breakdown voltage for 700V Lateral Power MOSFET with TC(Triple Conduction) structure
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収録刊行物
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- 電気学会研究会資料. EDD, 電子デバイス研究会
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電気学会研究会資料. EDD, 電子デバイス研究会 2003 (44), 21-26, 2003-09-18
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キーワード
詳細情報 詳細情報について
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- CRID
- 1572824500252966912
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- NII論文ID
- 10018989850
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- NII書誌ID
- AN1044178X
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- 本文言語コード
- ja
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- データソース種別
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- CiNii Articles