High Performance Strained-SOI CMOS Technology : Degradation Mechanism for Carrier Mobility and Device Design

• MIZUNO T.

  MIRAI-ASET

• SUGIYAMA N.

  MIRAI-ASET

• TEZUKA T.

  MIRAI-ASET

• NUMATA T.

  MIRAI-ASET

• MAEDA T.

  MIRAI-AIST

• TAKAGI S.

  MIRAI-ASET

Bibliographic Information

Other Title

• 高性能ひずみSOI-CMOS素子技術 : キャリア移動度劣化機構と素子設計

Journal

• 電気学会研究会資料. EDD, 電子デバイス研究会

  電気学会研究会資料. EDD, 電子デバイス研究会 2003 (32), 7-11, 2003-03-06

Details

• CRID: 1571135650392706688
• NII Article ID: 10018989870
• NII Book ID: AN1044178X
• Text Lang: ja
• Data Source:
  • CiNii Articles