Influence of device structure on the reverse recovery loss of the charge-storage diode (CSD)

• YAMAZAKI Miya

  Origin Electric Co., Ltd.

• KOBAYASHI Hideo

  Origin Electric Co., Ltd.

• SHINOHARA Shin-ichi

  Origin Electric Co., Ltd.

Bibliographic Information

Other Title

• 電荷蓄積ダイオード(CSD)における逆回復損失の検討

Journal

• 電気学会研究会資料. EDD, 電子デバイス研究会

  電気学会研究会資料. EDD, 電子デバイス研究会 2002 (83), 29-33, 2002-11-28

Keywords

• Charge-storage diode
• energy recovery circuit
• loss
• carrier distribution

Details

• CRID: 1573105975202898176
• NII Article ID: 10018990385
• NII Book ID: AN1044178X
• Text Lang: ja
• Data Source:
  • CiNii Articles