高破壊耐量ワイドセルピッチ1200V NPT-IGBT(CSTBT) Wide cell pitch 1200V NPT CSTBTs with short circuit ruggedness

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著者

収録刊行物

  • 電気学会研究会資料. EDD, 電子デバイス研究会

    電気学会研究会資料. EDD, 電子デバイス研究会 2001(76), 45-48, 2001-10-26

参考文献:  3件中 1-3件 を表示

各種コード

  • NII論文ID(NAID)
    10018991687
  • NII書誌ID(NCID)
    AN1044178X
  • 本文言語コード
    JPN
  • 資料種別
    ART
  • データ提供元
    CJP書誌 
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