スプリットゲート型フラッシュメモリのカップリング係数測定における制御ゲート適正電圧の設定 Control-Gate Voltage of a Split-Gate Flash EEPROM for Extracting the Coupling Coefficient from the Subthreshold Slope Method

この論文をさがす

著者

    • 藤原 英明 FUJIWARA H.
    • 三洋電機(株)マイクロエレクトロニクス研究所 Microelectronics Research Center, Sanyo Electric Co., Ltd.
    • 廣島 崇 HIROSHIMA T.
    • 三洋電機(株)マイクロエレクトロニクス研究所 Microelectronics Research Center, Sanyo Electric Co., Ltd.
    • 有本 護 ARIMOTO M.
    • 三洋電機(株)マイクロエレクトロニクス研究所 Microelectronics Research Center, Sanyo Electric Co., Ltd.
    • 海田 孝行 KAIDA T.
    • 三洋電機(株)マイクロエレクトロニクス研究所 Microelectronics Research Center, Sanyo Electric Co., Ltd.
    • 本間 運也 HONMA K.
    • 三洋電機(株)マイクロエレクトロニクス研究所 Microelectronics Research Center, Sanyo Electric Co., Ltd.
    • 周藤 祥司 SUDO S.
    • 三洋電機(株)マイクロエレクトロニクス研究所 Microelectronics Research Center, Sanyo Electric Co., Ltd.
    • 黒岡 和巳 KUROOKA K.
    • 三洋電機(株)マイクロエレクトロニクス研究所 Microelectronics Research Center, Sanyo Electric Co., Ltd.
    • 平瀬 征基 HIRASE M.
    • 三洋電機(株)マイクロエレクトロニクス研究所 Microelectronics Research Center, Sanyo Electric Co., Ltd.
    • 豆野 和延 MAMENO K.
    • 三洋電機(株)マイクロエレクトロニクス研究所 Microelectronics Research Center, Sanyo Electric Co., Ltd.

収録刊行物

  • 電気学会研究会資料. EDD, 電子デバイス研究会  

    電気学会研究会資料. EDD, 電子デバイス研究会 2001(56), 9-16, 2001-03-08 

参考文献:  5件

参考文献を見るにはログインが必要です。ユーザIDをお持ちでない方は新規登録してください。

各種コード

  • NII論文ID(NAID)
    10018991779
  • NII書誌ID(NCID)
    AN1044178X
  • 本文言語コード
    JPN
  • 資料種別
    ART
  • データ提供元
    CJP書誌 
ページトップへ