発変電所装置搭載パワー半導体素子の長期信頼性評価 Long-term Reliability Estimation of Power Semiconductor Devices in Power Utilities

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収録刊行物

  • 電気学会研究会資料. PE, 電力技術研究会  

    電気学会研究会資料. PE, 電力技術研究会 2001(21), 37-42, 2001-11-03 

参考文献:  7件

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各種コード

  • NII論文ID(NAID)
    10018995749
  • NII書誌ID(NCID)
    AN10318535
  • 本文言語コード
    JPN
  • 資料種別
    ART
  • データ提供元
    CJP書誌 
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