新幹線高架橋での電磁誘導測定試験と解析

• 孫 佳男

  早稲田大学

• 小川 知行

  早稲田大学

• 若尾 真治

  早稲田大学

• 奥谷 民雄

  鉄道・運輸機構

• 中村 信幸

  鉄道・運輸機構

• 寺田 夏樹

  鉄道総合技術研究所

• 館 裕

  電気技術開発

• 稲田 聡

  電気技術開発

書誌事項

タイトル別名

• Measurement Examination and Analysis at Electromagnetic Screening Effect of Viaduct

収録刊行物

• 電気学会研究会資料. TER, 交通・電気鉄道研究会

  電気学会研究会資料. TER, 交通・電気鉄道研究会 2007 (23), 15-22, 2007-07-06

キーワード

• ATき電
• 誘導障害
• 多線条回路網
• 誘導遮蔽効果
• 誘導予測計算
• 高架橋

詳細情報

• CRID: 1572543025352420096
• NII論文ID: 10019581923
• NII書誌ID: AN10074576
• 本文言語コード: ja
• データソース種別:
  • CiNii Articles