眼球停留関連電位のP3潜時を用いた認知負担評価に向けて : ICAによるアーティファクト除去の適用 Toward the Assessment of Cognitive Load using P3 latency in Eye-Fixation Related Potential : Application of ICA for Artifact Elimination

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収録刊行物

  • ヒューマンインタフェース学会論文誌  

    ヒューマンインタフェース学会論文誌 10(2), 225-232, 2008-05-25 

    ヒュ-マンインタフェ-ス学会

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被引用文献:  2件

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各種コード

  • NII論文ID(NAID)
    10021064428
  • NII書誌ID(NCID)
    AA11324440
  • 本文言語コード
    JPN
  • 資料種別
    ART
  • ISSN
    13447262
  • NDL 記事登録ID
    9506718
  • NDL 雑誌分類
    ZM1(科学技術--科学技術一般)
  • NDL 請求記号
    Z74-B565
  • データ提供元
    CJP書誌  CJP引用  NDL 
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