マイクロPIVのための暗視野照明における計測深度の特性 Characteristic of measurement depth in dark-field microscopy for micro PIV

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収録刊行物

  • 可視化情報学会誌. Suppl.

    可視化情報学会誌. Suppl. 28(1), 45-46, 2008-07-01

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各種コード

  • NII論文ID(NAID)
    10021111817
  • NII書誌ID(NCID)
    AA11907562
  • 本文言語コード
    JPN
  • 資料種別
    ART
  • ISSN
    09164731
  • データ提供元
    CJP書誌 
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