分子軌道計算を利用したAl合金薄膜の粒界偏析機構の解析

• 浦山 恒太郎

• 森 理恵

• 高山 新司

Bibliographic Information

Other Title

• ブンシ キドウ ケイサン オ リヨウシタ Al ゴウキン ハクマク ノ リュウカイ ヘンセキ キコウ ノ カイセキ
• Analysis of grain boundary segregation in Al alloy thin films by using molecular orbital calculation

Journal

• 日本金属学会誌 = The journal of the Japan Institute of Metals and Materials

  日本金属学会誌 = The journal of the Japan Institute of Metals and Materials 72 (3), 201-205, 2008-03

  仙台 : 日本金属学会 ; 1937-

Keywords

• grain boundary segregation
• ab-initio calculation
• DV-Xαmethod
• aluminum alloy thin film
• interconnect line materials

Details

• CRID: 1520572358910489856
• NII Article ID: 10021149895
• NII Book ID: AN00187860
• ISSN: 00214876
• NDL BIB ID: 9419730
• Web Site: https://ndlsearch.ndl.go.jp/books/R000000004-I9419730
• Text Lang: ja
• NDL Source Classification:
  • ZP41(科学技術--金属工学・鉱山工学)
• Data Source:
  • NDL
  • CiNii Articles