TEM像の解釈(I) Principles of TEM image formation

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著者

収録刊行物

  • 顕微鏡

    顕微鏡 43(1), 50-59, 2008-03-31

    日本顕微鏡学会

参考文献:  6件中 1-6件 を表示

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    進藤大輔

    材料評価のための高分解能電子顕微鏡法, 1996

    被引用文献1件

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    坂公恭

    結晶電子顕微鏡学, 1997

    被引用文献1件

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    田中通義

    やさしい電子回折と初等結晶学, 1997

    被引用文献1件

  • <no title>

    進藤大輔

    材料評価のための分析電子顕微鏡法, 1999

    被引用文献1件

  • <no title>

    今野豊彦

    物質からの回折と結像, 2003

    被引用文献1件

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    宝野和博編著

    金属ナノ組織解析法, 2006

    被引用文献1件

各種コード

  • NII論文ID(NAID)
    10021151804
  • NII書誌ID(NCID)
    AA11917781
  • 本文言語コード
    JPN
  • 資料種別
    REV
  • ISSN
    13490958
  • NDL 記事登録ID
    9465024
  • NDL 雑誌分類
    ZN33(科学技術--電気工学・電気機械工業--電子工学・電気通信)
  • NDL 請求記号
    Z16-896
  • データ提供元
    CJP書誌  NDL 
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