FIB法によるDAC試料のTEM薄膜試料作製 Preparation of TEM Foil from DAC Sample using Focused Ion Beam System

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著者

    • 境 毅 SAKAI Takeshi
    • 東北大学国際高等研究教育機構 International Advanced Research and Education Organization, Tohoku University

抄録

Analytical transmission electron microscope (ATEM) is a powerful tool for analyses of the samples recovered from ultrahigh pressure experiments. Recently, Focused Ion Beam (FIB) system has been applied to prepare a TEM foil of sample recovered from laser heated diamond anvil cell (LHDAC). It has some advantages compared to conventional argon ion milling method. In this article, recent advances in the DAC sample preparation for TEM observation using FIB system are reviewed.

収録刊行物

  • 高圧力の科学と技術 = The Review of high pressure science and technology  

    高圧力の科学と技術 = The Review of high pressure science and technology 18(1), 38-43, 2008-02-20 

    The Japan Society of High Pressure Science and Technology

参考文献:  14件

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各種コード

  • NII論文ID(NAID)
    10021153261
  • NII書誌ID(NCID)
    AN10452913
  • 本文言語コード
    JPN
  • 資料種別
    REV
  • ISSN
    0917639X
  • NDL 記事登録ID
    9422683
  • NDL 雑誌分類
    ZP1(科学技術--化学・化学工業)
  • NDL 請求記号
    Z17-1589
  • データ提供元
    CJP書誌  NDL  J-STAGE 
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