多端子型直流電位差法を用いた半楕円背面き裂の位置, 寸法, 形状と板厚の同時推定に関する電位場解析 Electric Field Analysis of the Simultaneous Evaluation of Location, Size, and Shape of a Semi-Elliptical Crack on the Back Surface and Plate Thickness Using Direct-Current Potential Difference Method of Multiple-Probe Type

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収録刊行物

  • 非破壊検査 = JOURNAL OF THE JAPANESE SOCIETY FOR NON-DESTRUCTIVE INSPECTION  

    非破壊検査 = JOURNAL OF THE JAPANESE SOCIETY FOR NON-DESTRUCTIVE INSPECTION 57(3), 137-141, 2008-03-01 

    日本非破壊検査協会

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各種コード

  • NII論文ID(NAID)
    10021165020
  • NII書誌ID(NCID)
    AN00208370
  • 本文言語コード
    JPN
  • 資料種別
    ART
  • ISSN
    03675866
  • NDL 記事登録ID
    9404081
  • NDL 雑誌分類
    ZM16(科学技術--科学技術一般--工業材料・材料試験)
  • NDL 請求記号
    Z14-41
  • データ提供元
    CJP書誌  CJP引用  NDL 
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