表面電位差分布を利用した極微小表面き裂の高精度評価

• 燈明 泰成

書誌事項

タイトル別名

• ヒョウメン デンイサ ブンプ オ リヨウシタ ゴクビショウ ヒョウメン キレツ ノ コウセイド ヒョウカ
• Sensitive NDE of a shallow surface crack utilizing surface potential drop distribution
• 特集 電磁気的手法による材料・きずの定量評価
• トクシュウ デンジキテキ シュホウ ニ ヨル ザイリョウ キズ ノ テイリョウ ヒョウカ

収録刊行物

• 非破壊検査 : Jjournal of the Japanese Society for Non-destructive Inspection / 日本非破壊検査協会 編

  非破壊検査 : Jjournal of the Japanese Society for Non-destructive Inspection / 日本非破壊検査協会 編 57 (5), 236-239, 2008-05

  [東京] : 日本非破壊検査協会

キーワード

• 近接端子プローブ
• 直流電位差法
• 表面き裂
• 表面電位差分布
• 定量的非破壊評価

詳細情報

• CRID: 1520290883152570368
• NII論文ID: 10021165188
• NII書誌ID: AN00208370
• ISSN: 03675866
• NDL書誌ID: 9492853
• Web Site: https://ndlsearch.ndl.go.jp/books/R000000004-I9492853
• 本文言語コード: ja
• NDL 雑誌分類:
  • ZM16(科学技術--科学技術一般--工業材料・材料試験)
• データソース種別:
  • NDL
  • CiNii Articles