非破壊検査用レーザーコンプトン散乱準単色X線発生装置の開発と利用 Development and Application of Quasi-monochromatic X-ray Source via Laser-Compton Scattering for NDT

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著者

    • 黒田 隆之助 KURODA Ryunosuke
    • (独)産業技術総合研究所 計測フロンティア研究部門 National Institute of Advanced Industrial Science and Technology (AIST)
    • 豊川 弘之 TOYOKAWA Hiroyuki
    • (独)産業技術総合研究所 計測フロンティア研究部門 National Institute of Advanced Industrial Science and Technology (AIST)
    • 池浦 広美 IKEURA Hiromi
    • (独)産業技術総合研究所 計測フロンティア研究部門 National Institute of Advanced Industrial Science and Technology (AIST)
    • 小池 正記 KOIKE Masaki
    • (独)産業技術総合研究所 計測フロンティア研究部門 National Institute of Advanced Industrial Science and Technology (AIST)
    • 山田家 和勝 YAMADA Kawakatsu
    • (独)産業技術総合研究所 計測フロンティア研究部門 National Institute of Advanced Industrial Science and Technology (AIST)

収録刊行物

  • 非破壊検査 = JOURNAL OF THE JAPANESE SOCIETY FOR NON-DESTRUCTIVE INSPECTION  

    非破壊検査 = JOURNAL OF THE JAPANESE SOCIETY FOR NON-DESTRUCTIVE INSPECTION 57(6), 266-269, 2008-06-01 

    日本非破壊検査協会

参考文献:  9件

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各種コード

  • NII論文ID(NAID)
    10021165271
  • NII書誌ID(NCID)
    AN00208370
  • 本文言語コード
    JPN
  • 資料種別
    REV
  • ISSN
    03675866
  • NDL 記事登録ID
    9529350
  • NDL 雑誌分類
    ZM16(科学技術--科学技術一般--工業材料・材料試験)
  • NDL 請求記号
    Z14-41
  • データ提供元
    CJP書誌  NDL 
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