直径20nmの力センサ : AFMを用いた単一応力発光ナノ粒子の発光評価 A Force Sensor with a Diameter of 20nm : Characterization of a Single Elasticoluminescence Nanoparticle Using AFM-Photon Measurement System

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著者

    • 徐 超男 XU Chao-Nan
    • 産業技術総合研究所 生産計測技術研究センター National Institute of Advanced Industrial Science and Technology (AIST), Measurement Sensing Technology Research Center

収録刊行物

  • 表面科学 = Journal of The Surface Science Society of Japan  

    表面科学 = Journal of The Surface Science Society of Japan 29(4), 229-234, 2008-04-10 

    日本表面科学会

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被引用文献:  2件

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各種コード

  • NII論文ID(NAID)
    10021165851
  • NII書誌ID(NCID)
    AN00334149
  • 本文言語コード
    JPN
  • 資料種別
    REV
  • ISSN
    03885321
  • NDL 記事登録ID
    9469456
  • NDL 雑誌分類
    ZM35(科学技術--物理学)
  • NDL 請求記号
    Z15-379
  • データ提供元
    CJP書誌  CJP引用  NDL 
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