Wait and Scan の適応とリスク
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- 村上 信五
- 名古屋市立大学耳鼻咽喉科
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収録刊行物
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- Otology Japan
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Otology Japan 17 (4), 581-, 2007-09-22
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詳細情報 詳細情報について
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- CRID
- 1571417125549638144
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- NII論文ID
- 10021297589
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- NII書誌ID
- AN10358085
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- ISSN
- 09172025
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- 本文言語コード
- ja
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- データソース種別
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- CiNii Articles