X線分光の現在 : IV. X線吸収微細構造分光法 Modern X-ray Spectroscopy : IV. X-Ray Absorption Fine Structure Spectroscopy

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著者

    • 雨宮 健太 AMEMIYA Kenta
    • 高エネルギー加速器研究機構・物質構造科学研究所 Institute of Materials Structure Science, High Energy Accelerator Research Organization

抄録

XAFS (X-ray Absorption Fine Structure) is a powerful technique, which provides element-specific information on atomic and electronic structures even for samples without long-range periodic structure. Owing to the recent developments of synchrotron radiation facilities, it has become possible also for non-expert researchers to obtain such information using XAFS. In this lecture, the basic concept and analytic procedures are presented including the utilization of X-ray polarization and time-resolved measurements.

収録刊行物

  • 分光研究 = Journal of the spectroscopical research of Japan  

    分光研究 = Journal of the spectroscopical research of Japan 57(4), 205-215, 2008-08-15 

    The Spectroscopical Society of Japan

参考文献:  22件

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各種コード

  • NII論文ID(NAID)
    10021308318
  • NII書誌ID(NCID)
    AN00222531
  • 本文言語コード
    JPN
  • 資料種別
    REV
  • ISSN
    00387002
  • NDL 記事登録ID
    9629694
  • NDL 雑誌分類
    ZM35(科学技術--物理学)
  • NDL 請求記号
    Z15-1
  • データ提供元
    CJP書誌  NDL  J-STAGE 
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