-
- 糸井 賢一
- エム・エフエスアイ株式会社
書誌事項
- タイトル別名
-
- Cryogenic Aerosol Cleaning Technology for Advanced Semiconductor Manufacturing Process
- センタン ノ ハンドウタイ セイゾウ プロセス ニ モチイラレル エアロゾル センジョウ ギジュツ
この論文をさがす
抄録
Cryogenic aerosol cleaning is a very unique technology that cleans without the use of chemicals and de-ionized water. With optimization of recipe parameters, this technology will provide solutions for the significant problems or difficulties in new materials, e.g., high-k or metal gate, fragile porous low-k, sensitive gate pattern for 65 nm node, in which the conventional wet cleaning may not meet the requirements. As the technology node goes on for 45 nm node beyond, cryogenic aerosol technology will be required to be implemented for advanced production line.
収録刊行物
-
- エアロゾル研究
-
エアロゾル研究 22 (1), 11-13, 2007
日本エアロゾル学会
- Tweet
詳細情報
-
- CRID
- 1390001204343121280
-
- NII論文ID
- 10021917999
-
- NII書誌ID
- AN10041511
-
- ISSN
- 1881543X
- 09122834
-
- NDL書誌ID
- 8750180
-
- 本文言語コード
- ja
-
- データソース種別
-
- JaLC
- NDL
- CiNii Articles
-
- 抄録ライセンスフラグ
- 使用不可