頭部X線規格写真法による日本人顔面頭蓋の成長に関する研究-実測長分析, 成長率分析-実測長百分率成績-

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詳細情報

  • CRID
    1570009750700661888
  • NII論文ID
    10021957374
  • データソース種別
    • CiNii Articles

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