原子間力顕微鏡による高分子材料表面の物性評価 Evaluation of Surface Properties of Polymeric Materials by Atomic Force Microscopy

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著者

    • 中嶋 健 NAKAJIMA Ken
    • 東北大学 原子分子材料科学高等研究機構 WPI Advanced Institute for Materials Research, Tohoku University
    • 藤波 想 FUJINAMI So
    • 東北大学 原子分子材料科学高等研究機構 WPI Advanced Institute for Materials Research, Tohoku University
    • 西 敏夫 NISHI Toshio
    • 東北大学 原子分子材料科学高等研究機構 WPI Advanced Institute for Materials Research, Tohoku University

抄録

原子間力顕微鏡をナノ触診技術へと昇華させ, 高分子材料表面の物性評価手段として活用するための基礎理論と先行技術であるナノインデンターとの比較を解説した。特に完全弾性体を記述するためのヘルツ接触理論, 凝着の効果を取り入れたJKR理論がどのような形で原子間力顕微鏡による力測定に利用できるかを説明するとともに, 実際の応用事例としてゴムブレンドや塗料材料への適用事例を紹介した。

Nano-palpation technique based on atomic force microscopy is explained. The technique can be used to evaluate several materials' properties. The background theories of the technique is explained and the comparison with nano-indenter system was made to clarify the advantage of the technique. Hertzian contact theory and JKR theory are introduced for elastic contacts without and with adhesive interaction, respectively. The practical example studies such as rubber blend or paint material are also explained.

収録刊行物

  • 色材協會誌  

    色材協會誌 81(9), 354-360, 2008-09-20 

    Japan Society of Colour Material

参考文献:  20件

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各種コード

  • NII論文ID(NAID)
    10021998959
  • NII書誌ID(NCID)
    AN00354634
  • 本文言語コード
    JPN
  • 資料種別
    REV
  • ISSN
    0010180X
  • NDL 記事登録ID
    9654302
  • NDL 雑誌分類
    ZP23(科学技術--化学・化学工業--染料・顔料・塗料)
  • NDL 請求記号
    Z17-211
  • データ提供元
    CJP書誌  NDL  J-STAGE 
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