In-parameter-order : A test generation strategy for pairwise testing

著者

収録刊行物

  • Proc. 3rd IEEE Int. Symp. on High-Assurance Systems Engineering (HASE'98)

    Proc. 3rd IEEE Int. Symp. on High-Assurance Systems Engineering (HASE'98), 254-261, 1998

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各種コード

  • NII論文ID(NAID)
    10026031253
  • 資料種別
    会議資料
  • データ提供元
    CJP引用 
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