横型SOI高速ダイオードの逆回復動作におけるダイナミックアバランシェ現象の解析とその抑制構造の検討

• 山本 貴生

  (株)デンソー

• 加藤 久登

  (株)デンソー

• 戸倉 規仁

  (株)デンソー

• 中川 明夫

  中川コンサルティング事務所

書誌事項

タイトル別名

• Analysis of dynamic avalanche phenomenon in SOI lateral high speed diode during reverse recovery and proposal of novel device structure suppressing the dynamic avalanche

収録刊行物

• 電気学会研究会資料. EDD, 電子デバイス研究会

  電気学会研究会資料. EDD, 電子デバイス研究会 2010 (83), 57-64, 2010-11-29

キーワード

• インバータ
• SOI
• 横型ダイオード
• 逆回復
• ダイナミックアバランシェ
• デバイスシミュレーション

詳細情報

• CRID: 1571135651209940096
• NII論文ID: 10027630855
• NII書誌ID: AN1044178X
• 本文言語コード: ja
• データソース種別:
  • CiNii Articles