CIC導体内の素線軌跡を考慮したラップジョイント部における接触抵抗分布解析

• 森村 俊也

  東北大学

• 荒井 大地

  東北大学

• 宮城 大輔

  東北大学

• 津田 理

  東北大学

• 濱島 高太郎

  八戸工業大学

• 谷貝 剛

  上智大学

• 小泉 徳潔

  JAEA

• 布谷 嘉彦

  JAEA

• 高畑 一也

  NIFS

• 尾花 哲浩

  NIFS

書誌事項

タイトル別名

• Analysis of Contact Resistance Distribution in a Wrap Joint Considering the Path of All Strands in CIC conductor

収録刊行物

• 電気学会研究会資料. ASC, 超電導応用電力機器

  電気学会研究会資料. ASC, 超電導応用電力機器 2013 (1), 91-96, 2013-01-15

キーワード

• CIC導体
• ラップジョイント
• 撚り乱れ
• 素線軌跡
• 素線間接触抵抗

詳細情報

• CRID: 1572543026022071296
• NII論文ID: 10031141603
• NII書誌ID: AN1043783X
• 本文言語コード: ja
• データソース種別:
  • CiNii Articles