汚染電極による電子密度の過少評価について

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  • オセン デンキョク ニ ヨル デンシ ミツド ノ カショウ ヒョウカ ニ ツイテ
  • Undevestimation of Electron Density by a Contaminated Langmuir Probe

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以前に提唱されたcontamination layer modelによるとプローブ表面が絶縁層でおおわれている時に得られる電子密度はまわりのプラズマ密度が高くなるにつれ少なめlごみつもられることがわかる。上記のことがらは特に電離層プラズマにおける電子密度測定で重要である。本論文は電子密度過少評価についてまず理論的および実験的に簡単な考察を行い,しかるのちに電離層プラズマにおいてよごれたプローブによってひきおこされる電子密度の過少評価と考えられる実験結果を示す。

Contamination layer model predicts that contaminated electrode gives lower electron density than the true value and that the effect is increased as the increase of the ambient plasma density. The above prediction was confirmed in laboratory plasma as well as in space plasma. Consequently the serious influence of the probe contamination upon the density evaluation is impressed.

資料番号: SA0124424000

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