液晶の電気流体力学的不安定性におけるシェブロン・パターンの多様性

• 森, 信彰

• 日高, 芳樹

• 許, 宗焄

• 甲斐, 昌一

収録刊行物

• 数理解析研究所講究録

  数理解析研究所講究録 1081 19-29, 1999-02

  京都大学数理解析研究所

詳細情報

• CRID: 1050564288864493184
• NII論文ID: 110000991230
• NII書誌ID: AN00061013
• HANDLE: 10228/00006579
• ISSN: 18802818
• Web Site: https://kyutech.repo.nii.ac.jp/records/5368
• 本文言語コード: ja
• 資料種別: journal article
• データソース種別:
  • IRDB
  • CiNii Articles