25pL-9 アモルファスSi/SiO_2多層膜のa-Siのラマン散乱
書誌事項
- タイトル別名
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- Raman scattering investigation of the structure of amorphous silicon in a-Si/SiO_2 superlattice films
収録刊行物
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- 日本物理学会講演概要集
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日本物理学会講演概要集 55.1.4 (0), 608-, 2000
一般社団法人 日本物理学会
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詳細情報 詳細情報について
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- CRID
- 1390001206033252096
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- NII論文ID
- 110001914670
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- ISSN
- 21890803
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- 本文言語コード
- ja
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- データソース種別
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- JaLC
- CiNii Articles