25pL-9 アモルファスSi/SiO_2多層膜のa-Siのラマン散乱

DOI

書誌事項

タイトル別名
  • Raman scattering investigation of the structure of amorphous silicon in a-Si/SiO_2 superlattice films

収録刊行物

詳細情報 詳細情報について

  • CRID
    1390001206033252096
  • NII論文ID
    110001914670
  • DOI
    10.11316/jpsgaiyo.55.1.4.0_608_4
  • ISSN
    21890803
  • 本文言語コード
    ja
  • データソース種別
    • JaLC
    • CiNii Articles

問題の指摘

ページトップへ