27p-N-4 GaPの電子線照射誘起欠陥のTEM内その場分光測定

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書誌事項

タイトル別名
  • 27p-N-4 Electron-irradiation-induced defects in GaP studied by in-situ optical spectroscopy in transmission electron microscope

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詳細情報 詳細情報について

  • CRID
    1390001206163699072
  • NII論文ID
    110001981635
  • DOI
    10.11316/jpsgaiyoj.1995.2.0_26_2
  • ISSN
    24331171
  • 本文言語コード
    ja
  • データソース種別
    • JaLC
    • CiNii Articles

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