量子ホール効果のブレークダウンの試料形状依存性

• 深野 敦之

  学習院大学理

• 鈴木 純児

  学習院大学理

• 内田 清隆

  NPC

• 謝花 良貴

  学習院大学理

• 岡本 徹

  学習院大学理

• 川路 紳治

  学習院大学理

書誌事項

タイトル別名

• Electrode Structure Dependence of Breakdown of the Quantum Hall Effect

収録刊行物

• 日本物理学会講演概要集. 秋の分科会

  日本物理学会講演概要集. 秋の分科会 1996.2 (0), 237-, 1996

  一般社団法人 日本物理学会

詳細情報

• CRID: 1390282681143676800
• NII論文ID: 110001985177
• DOI: 10.11316/jpsgaiyoj.1996.2.0_237_2
• ISSN: 24331171
• 本文言語コード: ja
• データソース種別:
  • JaLC
  • CiNii Articles