量子化ホール抵抗の高精度測定 : 試料幅依存性

• 鈴木 純児

  学習院大・理

• 島田 貴子

  学習院大・理

• 深野 敦之

  学習院大・理

• 岡本 徹

  学習院大・理

• 川路 紳治

  学習院大・理

書誌事項

タイトル別名

• High Precision Measurement of Quantized Hall Resistance : Sample Width Dependence

収録刊行物

• 日本物理学会講演概要集. 秋の分科会

  日本物理学会講演概要集. 秋の分科会 1996.3 (0), 542-, 1996

  一般社団法人 日本物理学会

詳細情報

• CRID: 1390001206167529600
• NII論文ID: 110001987028
• DOI: 10.11316/jpsgaiyoj.1996.3.0_542_2
• ISSN: 24331171
• 本文言語コード: ja
• データソース種別:
  • JaLC
  • CiNii Articles