15a-DH-7 オージェ電子回折、斜入射後方散乱中速電子回折によるAg/Si(111)√<3>×√<3>, Ag / Ge / Si(111)√<3>×√<3>表面構造解析 15a-DH-7 Structural analysis of Ag/Si(111)√<3>×√<3> and Ag / Ge / Si(111)√<3>×√<3> surface with Auger electron diffrsction and grazing incidence backscatering

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各種コード

• NII論文ID(NAID) :

  110001996179

• NII書誌ID(NCID) :

  AN10453836

• 本文言語コード :

  JPN

• 収録DB :

  NII-ELS 

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