物質科学のための高分解能硬X線光電子分光(実験技術)  [in Japanese] High Resolution Hard X-Ray Photoemission Spectroscopy for Material Science  [in Japanese]

第三世代高輝度放射光X線を利用した硬X線光電子分光法について述べる.この方法は検出深さが従来の真空紫外-軟X線領域における光電子分光法に比べて, 3倍から5倍大きく, 試料表面の影響をほとんど無視できる.後置分光器, 収束ミラー, 高エネルギー用アナライザーを組み合わせ, 励起光の偏光による光電子放出強度の角度依存性などを考慮して, 配置を最適化することにより, 分解能, スループット, ともに従来の放射光による光電子分光法に劣らない性能が得られた.この硬X線光電子分光法が非常に広い応用範囲を持ち, 物質探索や物性研究の新しい有力な手段としての可能性を持つことを様々なテスト実験により明らかにした.

We have developed high-resolution hard X-ray photoemission spectroscopy using high brilliant X-ray synchrotron radiation. This brand new method provides 3 to 5times larger probing depth, which enable us to obtain bulk characteristics of the electronic and the chemical states of the materials due to the reduction of the surface contribution. Optimizing the experimental configuration, combination of a channel cut post-monochromator, focusing mirrors and a high energy analyzer realizes high performance in the resolution and the throughput comparable to those of the conventional synchrotron radiation photoemission spectroscopy.