25aWB-3 UHV-TEM法によるSi(111)√<3>×√<3>-Ag上に成長したAg薄膜界面構造の研究

• 中出 浩之

  東工大理

• 大島 義文

  東工大理

• 平山 博之

  東工大理

• 高柳 邦夫

  東工大理

書誌事項

タイトル別名

• Observation of thin Ag film grown on the Si(111)√<3>×√<3>-Ag by UHV-TEM

収録刊行物

• 日本物理学会講演概要集

  日本物理学会講演概要集 55.2.4 (0), 791-, 2000

  一般社団法人 日本物理学会

詳細情報

• CRID: 1390001206037216512
• NII論文ID: 110002151021
• DOI: 10.11316/jpsgaiyo.55.2.4.0_791_2
• ISSN: 21890803
• 本文言語コード: ja
• データソース種別:
  • JaLC
  • CiNii Articles