31pYF-1 軟 X 線発光・吸収分光による反強磁性結合した Fe/Si 多層膜界面の結合状態評価

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タイトル別名
  • Interfaces in Antiferromagnetically Coupled Fe/Si Multilayers Studied by Soft X-Ray Emission and Absorption Spectroscopy

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詳細情報 詳細情報について

  • CRID
    1390001205994160000
  • NII論文ID
    110002221753
  • DOI
    10.11316/jpsgaiyo.58.1.4.0_740_4
  • ISSN
    21890803
  • 本文言語コード
    ja
  • データソース種別
    • JaLC
    • CiNii Articles

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