31pYF-1 軟 X 線発光・吸収分光による反強磁性結合した Fe/Si 多層膜界面の結合状態評価
書誌事項
- タイトル別名
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- Interfaces in Antiferromagnetically Coupled Fe/Si Multilayers Studied by Soft X-Ray Emission and Absorption Spectroscopy
収録刊行物
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- 日本物理学会講演概要集
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日本物理学会講演概要集 58.1.4 (0), 740-, 2003
一般社団法人 日本物理学会
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詳細情報 詳細情報について
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- CRID
- 1390001205994160000
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- NII論文ID
- 110002221753
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- ISSN
- 21890803
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- 本文言語コード
- ja
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- データソース種別
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- JaLC
- CiNii Articles