31pYF-2 軟 X 線偏光分光計の開発と層状化合物の発光スペクトルへの応用

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タイトル別名
  • Development of a soft X-ray polarization spectrometer and its application to soft X-ray emission spectroscopy for layered compounds

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詳細情報 詳細情報について

  • CRID
    1390001205994148736
  • NII論文ID
    110002221757
  • DOI
    10.11316/jpsgaiyo.58.1.4.0_741_1
  • ISSN
    21890803
  • 本文言語コード
    ja
  • データソース種別
    • JaLC
    • CiNii Articles

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