301 EBSD (電子線後方散乱回折)法を用いた銅膜材の疲労損傷評価

• 清水 憲一

  岡山大

• 鳥居 太始之

  岡山大

書誌事項

タイトル別名

• Evaluation of Fatigue Damage in Copper Films Using EBSD (Electron Back-scatter Diffracton) Method

収録刊行物

• 中国四国支部総会・講演会　講演論文集

  中国四国支部総会・講演会　講演論文集 2002.40 (0), 75-76, 2002

  一般社団法人 日本機械学会

詳細情報

• CRID: 1390001205859664512
• NII論文ID: 110002534529
• DOI: 10.1299/jsmecs.2002.40.75
• ISSN: 24242764
• Web Site: https://www.jstage.jst.go.jp/article/jsmecs/2002.40/0/2002.40_75/_pdf
• 本文言語コード: ja
• データソース種別:
  • JaLC
  • Crossref
  • CiNii Articles