A New Heuristic Test Sequence Generation Algorithm for Sequential Circuits

• Mitsukuni, Tsuboya

• Goro, Amamiya

• Toshihiro, Arima

• Jiro, Okuda

収録刊行物

• Information Processing in Japan

  Information Processing in Japan 15 118-122, 1975-01-01

  一般社団法人情報処理学会

詳細情報

• CRID: 1050845762824461184
• NII論文ID: 110002672304
• NII書誌ID: AA00674393
• Web Site: http://id.nii.ac.jp/1001/00060128/
• 本文言語コード: en
• 資料種別: article
• データソース種別:
  • IRDB
  • CiNii Articles