OSインタフェース検定システム OS Interface Validation System

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著者

    • 竹中 市郎 TAKENAKA Ichiro
    • 日本電信電話(株)NTT交換システム研究所伝達ソフトウェア研究部 Transport Switching Software Laboratory, NTT Communication Switching Laboratories, Nippon Telegraph and Telephone Corporation
    • 小田 英雄 ODA Hideo
    • 日本電信電話(株)NTT情報通信網研究所網オペレーション研究部 Network Operations Laboratory, NTT Network Information Systems Laboratories, Nippon Telegraph and Telephone Corporation
    • 森廣 政治 MORIHIRO Masaharu
    • 日本電信電話(株)NTT情報通信網研究所網オペレーション研究部 Network Operations Laboratory, NTT Network Information Systems Laboratories, Nippon Telegraph and Telephone Corporation

抄録

アプリケーションプログラム(AP)の移植性を確保するためには、オペレーティングシステム(OS)インタフェースの標準化とともに、製品として実現されたOSが標準仕様に準拠していることを検証することが重要である。既にPOSIX、シグマOSに対しOSインタフェースの検定(Validation または Conformance Testing)が実施されている。これらのインタフェース規定においては、製品が標準仕様に含まれない機能を持つこと(機能過多)を許容している。このため検定もテストスイート(テストプログラムの集合)の実行により標準仕様との照合を行う方法(機能検定)が用いられており、機能過多の検出は行っていない。しかし、例えばCTRONのように機能過多を許容しないインタフェース規定の場合には、この方法のみでは十分な検定ができない。また、機能検定においては、どこまで厳密にテストを行うべきかという問題がある。本論文では、上記問題点に対しそれそれ、機能過多を検出する方法としてドキュメント検定の採用、検定精度の定量的評価法として、システムコールの入力パラメータ値の組合せに基づく16のレベルを定義し、レベルに応じたテスト項目選定法を提案している。これらを適用したCTRON検定システムの構成と実現方法および検定実施結果を分析し、本提案が当初狙いとしたAPの移檀性確保に効果があることを示す。

Validation (or Conformance testing) of Operating System (OS) interface specifications is a key to assure portability of application programs (AP). Validation services for OS such as POSIX and Sigma OS employ function test method in which conformance to standard specifications is checked by executing a set of test programs called test suite on the OS under test. However, this method can not detect functions excessive to the standard specifications. Therefore, the method is not enough for validation of an OS interface specification which does not allow the existence of excessive functions in an implementation. Another issue to be discussed in the function test method is what the pratically sufficient level of testing accuracy is. In this paper, the document test method which enables the detection of excessive functions is employed. Also introduced here is a definition of testing accuracy levels for test suite together with a method to uniquely design test cases for each of 16 levels defined here. The proposed methods are applied in the CTRON validation system. The data show that the metods are effective to assure AP portability.

収録刊行物

  • 情報処理学会論文誌

    情報処理学会論文誌 34(5), 1107-1116, 1993-05-15

    一般社団法人情報処理学会

参考文献:  27件中 1-27件 を表示

被引用文献:  1件中 1-1件 を表示

各種コード

  • NII論文ID(NAID)
    110002722480
  • NII書誌ID(NCID)
    AN00116647
  • 本文言語コード
    JPN
  • 資料種別
    Journal Article
  • ISSN
    1882-7764
  • データ提供元
    CJP書誌  CJP引用  NII-ELS  IPSJ 
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