走査透過電子顕微鏡の実時間収差補正システムの性能予測 Performance Estimation of a Real - time Aberration Correction System for Scanning Transmission Electron Microscopes

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著者

    • 高橋 翔 TAKAHASHI SHO
    • 豊橋技術科学大学 知識情報工学系 Dept. Knowledge-based Information Engineering, Toyohashi University of Technology
    • 市川 周一 ICHIKAWA SHUICHI
    • 豊橋技術科学大学 知識情報工学系 Dept. Knowledge-based Information Engineering, Toyohashi University of Technology

抄録

走査透過電子顕微鏡の分解能は,対物レンズの球面収差のため理論的限界の1/100程度に制約されている.生田は,多数の小面積検知器を用いて実時間信号処理を施し,無収差の振幅像と位相像を得る手法を提案した.本研究では,生田の手法をPCクラスタで実装するため,信号処理部のチューニングと性能評価を行い,最終システムの処理性能を予測する.The resolution of a scanning transmission electron microscope remains 100 times worse than its theoretical limit owing to the spherical aberration of objective lens. Ikuta proposed a system to generate an aberration-free amplitude image and phase image using multiple small detectors with real-time signal processing. This study shows the performance optimization results of its signal processing procedure, and estimates the overall performance of Ikuta's aberration correction system.

The resolution of a scanning transmission electron microscope remains 100 times worse than its theoretical limit owing to the spherical aberration of objective lens. Ikuta proposed a system to generate an aberration-free amplitude image and phase image using multiple small detectors with real-time signal processing. This study shows the performance optimization results of its signal processing procedure, and estimates the overall performance of Ikuta's aberration correction system.

収録刊行物

  • 情報処理学会研究報告計算機アーキテクチャ(ARC)

    情報処理学会研究報告計算機アーキテクチャ(ARC) 2004(20(2003-ARC-157)), 163-168, 2004-03-03

    一般社団法人情報処理学会

参考文献:  10件中 1-10件 を表示

各種コード

  • NII論文ID(NAID)
    110002774616
  • NII書誌ID(NCID)
    AN10096105
  • 本文言語コード
    JPN
  • 資料種別
    Technical Report
  • ISSN
    09196072
  • NDL 記事登録ID
    6912363
  • NDL 雑誌分類
    ZM13(科学技術--科学技術一般--データ処理・計算機)
  • NDL 請求記号
    Z14-1121
  • データ提供元
    CJP書誌  NDL  NII-ELS  IPSJ 
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