同位体希釈-誘導結合プラズマ質量分析法による高純度銅中の銀の高精度定量

• 梅田 博司

  新日本製鐵(株)第一技術研究所

• 稲本 勇

  新日本製鐵(株)第一技術研究所

• 千葉 光一

  新日本製鐵(株)第一技術研究所

書誌事項

タイトル別名

• Precise determination of silver in high purity copper by isotope dilution/ICP-MS.
• 同位体希釈‐誘導結合プラズマ質量分析法による高純度銅中の銀の高精度定量
• ドウイタイ キシャク ユウドウ ケツゴウ プラズマ シツリョウ ブンセキホウ

抄録

Isotope dilution/inductively coupled plasma mass spectrometry (ID-ICPMS) was applied to determine trace levels of silver in high purity copper. In this experiment, mass discrimination effects by two main components, copper as a matrix and tellurium used for coprecipitation, on the measurments of isotope ratio (¹⁰⁷Ag/¹⁰⁹Ag) were not significant in ICP-MS. The analytical results for NIST SRMs by ID-ICPMS agreed well with the certified values and those obtained by standard addition using ICP-MS. After concentrating silver by the coprecipitation method, ID-ICPMS can determine a trace level of silver at 0.106 μg g^-1 in copper with 3.8% RSD.

収録刊行物

• 分析化学

  分析化学 39 (5), 283-287, 1990

  公益社団法人 日本分析化学会

キーワード

• isotope dilution analysis using ICP-MS
• determination of trace levels of silver
• trace analysis of pure copper

詳細情報

• CRID: 1390282679027849600
• NII論文ID: 110002906122
• NII書誌ID: AN00222633
• DOI: 10.2116/bunsekikagaku.39.5_283
• COI: 1:CAS:528:DyaK3cXkslSgt78%3D
• NDL書誌ID: 3668784
• ISSN: 05251931
• Web Site: https://ndlsearch.ndl.go.jp/books/R000000004-I3668784
• Web Site: http://www.jstage.jst.go.jp/article/bunsekikagaku1952/39/5/39_5_283/_pdf
• Web Site: http://dl.ndl.go.jp/info:ndljp/pid/10892374
• 本文言語コード: ja
• データソース種別:
  • JaLC
  • NDL
  • Crossref
  • NDL-Digital
  • CiNii Articles
• 抄録ライセンスフラグ: 使用不可