誘導結合プラズマ発光分析法によるサイアロン中の不純物の定量

DOI NDLデジタルコレクション Web Site Web Site 被引用文献3件 参考文献12件
  • 原田 芳文
    福岡県工業技術センター機械電子研究所 現在 福岡県工業技術センター企画管理部
  • 倉田 奈津子
    福岡県工業技術センター機械電子研究所 現在 福岡県工業技術センター企画管理部
  • 古野 義一
    福岡県工業技術センター機械電子研究所

書誌事項

タイトル別名
  • Determination of impurities in sialon by ICP-AES.
  • ユウドウ ケツゴウ プラズマ ハッコウ ブンセキホウ ニ ヨル サイアロンチュ

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抄録

Impurities (Ca, Cr, Cu, Fe, K, Mg, Mn, Na, Ni, Ti, Y, Zn and Zr) in sialon powder were determined by the following procedure: A sample (0.5 g) was heated with a mixture of hydrofluoric acid (3 ml) and nitric acid (1 ml) in a Teflon pressure vessel at 170°C for 16 h. The contents of the vessel were transferred into a platinum crucible containing phosphoric acid (4 ml) and heated on a hot plate until the opaque appearance of the content changed to a clear-syrupy fluid. The fluid was diluted to 100 ml with water and used for ICP-AES analysis of all impurity elements except K, which was determined by AAS. It was necessary to match closely the matrix concentrations (H3PO4, Al and/or Y) of the standard solutions with those of sialon sample solutions for the determination of impurities because of interferences of the matrix components. This method was successfully applied to the determination of impurities in commercial sialon samples.

収録刊行物

  • 分析化学

    分析化学 43 (8), 649-653, 1994

    公益社団法人 日本分析化学会

被引用文献 (3)*注記

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参考文献 (12)*注記

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