ファンダメンタルパラメーター法によるスラグ,岩石の蛍光X線分析  [in Japanese] XRF analysis of slags and rocks using fundamental parameter method.  [in Japanese]

蛍光X線分析法において,ファンダメンタルパラメーター(FP)法をスラグ,岩石の定量分析に適用するために分析精度の検討を行った.スラグ分析では44μm以下に微粉砕した粉末試料のブリケットと仮焼き後希釈比を11として作製したガラスビード試料を,岩石分析では,希釈比5のガラスビード試料を,FP法により二酸化ケイ素,酸化アルミニウムなどの主要成分について定量分析し,検量線法との正確さの比較を行った.計算に用いたプログラムはXRF-11である.その結果,スラグのブリケット化試料及びガラスビード試料と岩石のガラスビード試料について,一部の少量成分を除いてほぼ同程度の正確さが得られた.更に本分析方法は,スラグ及び岩石分析において良好な繰り返し精度を示した.

Application of the fundamental parameter method to quantitative analysis of slags and rocks was studied. The program used for calculation is XRF-11. Pressed powder samples after screening at 44 μm and glass beads of the dilution ratio (sample+flux/sample) of 11 were used for analysis of slags, and glass beads of the dilution ratio of 5 were used for analysis of rocks. Accuracies for each component obtained from the fundamental parameter method were equal to those from the calibration curve method except for the minor components in the powder samples and glass beads. The proposed method showed good reproducibility in slag and rock analysis. The relative standard deviation was in the range of 0.27〜1.23% for each component in the slags and 0.23〜1.78% in the rocks.