Structural Analyses of Cu[111] Layer on Nb[110] Barrier Formed on SiO2

• Md. Maniruzzaman

• Mayumi B. Takeyama

• Atsushi Noya

書誌事項

タイトル別名

• Structural Analyses of Cu 111 Layer on Nb 110 Barrier Formed on SiO2

収録刊行物

• 電子情報通信学会技術研究報告 = IEICE technical report : 信学技報

  電子情報通信学会技術研究報告 = IEICE technical report : 信学技報 103 (159), 19-22, 2003-06-30

  東京 : 電子情報通信学会

キーワード

• Diffusion barrier
• Niobium
• Preferred orientation
• X-ray pole figure

詳細情報

• CRID: 1520009408708798976
• NII論文ID: 110003175338
• NII論文ID: 110003308417
• NII書誌ID: AA1123312X
• ISSN: 09135685
• NDL書誌ID: 6646181
• NDL書誌ID: 6646733
• Web Site: https://ndlsearch.ndl.go.jp/books/R000000004-I6646181
• Web Site: https://ndlsearch.ndl.go.jp/books/R000000004-I6646733
• 本文言語コード: en
• NDL 雑誌分類:
  • ZN33(科学技術--電気工学・電気機械工業--電子工学・電気通信)
• データソース種別:
  • NDL
  • CiNii Articles