Characterization of Germanium Nanocrystallites Grown on SiO2 by a Conductive AFM Probe Technique

• 牧原 克典

• 岡本 祥裕

• 村上 秀樹

書誌事項

タイトル別名

• 導電性AFM探針によるゲルマニウムナノクリスタル/SiO2の局所伝導評価
• 2004 Asia-Pacific Workshop on Fundamentals and Application of Advanced Semiconductor Devices(AWAD 2004) ; Session A10 Nano-Materials and Quantum Devices
• 2004 Asia Pacific Workshop on Fundamentals and Application of Advanced Semiconductor Devices AWAD 2004 ; Session A10 Nano Materials and Quantum Devices

収録刊行物

• 電子情報通信学会技術研究報告 = IEICE technical report : 信学技報

  電子情報通信学会技術研究報告 = IEICE technical report : 信学技報 104 (154), 57-60, 2004-07-02

  東京 : 電子情報通信学会

キーワード

• 導電性探針
• 局所電気伝導
• nanocrystal
• conducting probe
• local characterization

詳細情報

• CRID: 1520853832757610752
• NII論文ID: 110003175633
• NII論文ID: 110003309216
• NII書誌ID: AA1123312X
• ISSN: 09135685
• NDL書誌ID: 7036572
• NDL書誌ID: 7036780
• Web Site: https://ndlsearch.ndl.go.jp/books/R000000004-I7036572
• Web Site: https://ndlsearch.ndl.go.jp/books/R000000004-I7036780
• 本文言語コード: en
• NDL 雑誌分類:
  • ZN33(科学技術--電気工学・電気機械工業--電子工学・電気通信)
• データソース種別:
  • NDL
  • CiNii Articles