招待論文 低温多結晶シリコンTFTのデバイス特性や信頼性に及ぼす粒界の影響

• 土屋 敏章

• 佐々木 伸夫

書誌事項

タイトル別名

• ショウタイ ロンブン テイオン タケッショウ シリコン TFT ノ デバイス トクセイ ヤ シンライセイ ニ オヨボス リュウカイ ノ エイキョウ

収録刊行物

• 電子情報通信学会技術研究報告 = IEICE technical report : 信学技報

  電子情報通信学会技術研究報告 = IEICE technical report : 信学技報 104 (5), 19-24, 2004-04-16

  東京 : 電子情報通信学会

キーワード

• ホットキャリア信頼性
• 電界効果移動度
• サブスレッショルド係数
• 基板浮遊効果
• grain boundary
• hot carrier reliability
• field effect mobility
• subthreshold slope
• floating body effects

詳細情報

• CRID: 1520290884121332992
• NII論文ID: 110003300539
• NII論文ID: 110003175651
• NII論文ID: 110003309332
• NII書誌ID: AA1123312X
• ISSN: 09135685
• NDL書誌ID: 6958254
• NDL書誌ID: 6958306
• NDL書誌ID: 6956504
• Web Site: https://ndlsearch.ndl.go.jp/books/R000000004-I6958254
• Web Site: https://ndlsearch.ndl.go.jp/books/R000000004-I6958306
• Web Site: https://ndlsearch.ndl.go.jp/books/R000000004-I6956504
• 本文言語コード: ja
• NDL 雑誌分類:
  • ZN33(科学技術--電気工学・電気機械工業--電子工学・電気通信)
• データソース種別:
  • NDL
  • CiNii Articles