書換形2層相変化光ディスク用高透過率記録層  [in Japanese] High transmittance Recording Layer for rewritable Dual-layer Phase-change Optical Disk  [in Japanese]

書換形2層相変化光ディスクのフロント記録届(レーザ入射側の記録層)に必要である、高い透過率と優れた反射率コントラスト(結品部の反射率をRcry、アモルファス部の反射率をRamoとして、 (Rcr-Ramo)/(Rcry+Ramo)で定義)を備えた相変化光記録層を実現した。このフロント層は、レーザ入射側からZnS-SiO_2層、界面層、GeTe-Sb_2Te_3相変化材料層(6nm)、界面届、Ag合金反射層(10nm)を形成するという従来構成に対して、さらに、高い屈折率を有するTiO_2層(20nm)を最上層として形成したことを特徴とする。TiO_2層は反射層との間で光学的干渉を生じさせ、アモルファス部では54%、結品部では51%もの大きな透過率を達成した。また、反射率コントラストを大きくする目的で、信号極性をRcry>Ramoとするいわゆる「High to Low 構成」を採用し0.7を超える大きな反射率コントラスト(Ramo=0.7%, Rcry=5.7%)を実現した。このフロント層に、波長405nm、NA0.85の光学系を用いて、最短マーク長0.149μmの1-7PP変調信号(2層で50GBの密度に相当)を記録したところ、10mWの記録パワーで7.4%のジッター値(by LimitEqualizer)が得られた。

We developed a phase-change recording medium which has a high transmittance and a large reflectivity contrast (that is defined as the equation of (Rcr-Ramo)/(Rcry+Ramo)). This medium is very suitable for the front-side recording layer of a dual-layer optical disk. The layer structure is characterized by a TiO_2 top film with a large refractive index of 2.7 in addition to a conventional structure which has very thin films of GeTe-Sb_2Te_3 phase-change film (6nm) and Ag-alloy reflective film (10nm). A high transmittance (>50%) is realized by a new optical interference arising from a TiO_2 top film. Moreover, we adopted so-called "high to low" optical designing (Rcry>Ramo) to achieve a large reflectivity contrast (>0.7). In the case of 50GB/side (25GB layer) condition, the jitter value using a limit equalizer is 7.4%.