ネマティック液晶の応答時間特性の測定(光・電波ワークショップ)  [in Japanese] Measurements of nematic liquid crystal response time  [in Japanese]

ネマティック液晶材料をマイクロ波帯でのアダプティブ回路に適用する場合,材料選択の指針の1つとして重要なのが液晶の配向制御用電圧印加に対する応答時間特性である.本論文では粘性の異なる2種類のネマティック液晶を選び,パラレルネマティック構造およびツイストネマティック構造の液晶をマイクロストリップ基板とした場合と光学セルとした場合について,それぞれマイクロ波共振器法および透過光量測定法により,その応答時間特性を測定し,結果を比較した.またこれらの測定における立ち上がり時間および立ち下がり時間については,それぞれ誘電率および屈折率が90%変化する時間に統一し,両測定法における応答時間の物理的意味を明らかにすることにより,2つの異なる測定法の応答時間の比較照合を可能にした.

A method is proposed for measuring liquid crystal response time using a microstrip-line inductive coupled ring resonator by direct microwave detection of resonance peaks. In this paper, the response time characteristics for two kinds of the nematic liquid crystals' layers which have the paralleled or twisted nematic construction were shown by using two different measurement methods(the proposed microwave resonance method and the optical method). These measurement results of two different methods can be compared quantitatively by making the physical meaning of the response time in two different methods clear.